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Elektrophysik霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀

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Elektrophysik霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀

MiniTest 7400 FH 測(cè)厚儀SIDSP保證高度
MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH采用了內(nèi)置傳感器數(shù)字信號(hào)處理（SIDSP）功能。所有測(cè)量信號(hào)在傳感器內(nèi)*數(shù)字化生成、數(shù)字化處理。處理完畢的數(shù)值才會(huì)傳輸?shù)街鳈C(jī)進(jìn)行顯示，統(tǒng)計(jì)分析和存儲(chǔ)。避免了模擬器件在傳輸數(shù)據(jù)過(guò)程中的錯(cuò)誤影響。
MiniTest 7400 FH 測(cè)厚儀兩種探頭可選
為達(dá)到zui大限度的讀值，特提供兩種可選探頭，探頭易更換且頂部加硬，適用于0-4mm（FH4）和0-10mm（FH10）兩種測(cè)量范圍。
MiniTest 7400 FH 測(cè)厚儀良好的鋼珠設(shè)計(jì)
MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH使用特別處理的鋼球，鋼球的體積更加，使得測(cè)量的重現(xiàn)性增加到0.5%。鋼珠尺寸有1.5mm、2.5mm、4.0mm（FH4），及2.5mm、4mm、6mm、9mm（FH10）。另自2011年起，可選配1mm直徑鋼珠用于測(cè)量更小曲面的瓶壁厚度。
創(chuàng)新菜單控制及數(shù)據(jù)歸檔系統(tǒng)
MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH由易懂的菜單控制操作，并進(jìn)行數(shù)據(jù)歸檔，和普通電腦的應(yīng)用程序類(lèi)似。全程提供操作幫助，有上下文關(guān)聯(lián)的幫助標(biāo)題。

高精度壁厚測(cè)厚儀EPK MiniTest 7400FH7400FH瓶壁/壁厚測(cè)量?jī)x是一種便攜式厚度測(cè)量裝置，能夠測(cè)量厚度達(dá)24 mm的材料。 該設(shè)備的小尺寸和便攜性使其能夠在生產(chǎn)區(qū)域和高質(zhì)量的實(shí)驗(yàn)室中操作。 這兩種型號(hào)確保對(duì)所有類(lèi)型的有色金屬產(chǎn)品進(jìn)行簡(jiǎn)單，無(wú)損和高精度的壁厚測(cè)量，而不管其尺寸，形狀和材料。 它們是需要測(cè)量尖角，小半徑和/或復(fù)雜形狀的應(yīng)用的理想選擇。