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德國生產(chǎn)Minitest 2100涂層測厚儀標(biāo)配

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德國生產(chǎn)Minitest 2100涂層測厚儀標(biāo)配

德國生產(chǎn)Minitest 2100涂層測厚儀具有數(shù)據(jù)處理功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。.可以存儲和統(tǒng)計評估多達(dá)10,000個讀數(shù)。統(tǒng)計包括6個值。如果連接到MiniPrint4100數(shù)據(jù)打印機,連同所有的單讀數(shù)立即測量時打印出由于以下原因稍后的日期

校準(zhǔn):可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn),如果校準(zhǔn)正確,所有讀數(shù)將保持在允許誤差范圍之內(nèi)(見技術(shù)數(shù)據(jù))。 強磁場、大電流(如變壓器輸出端、母線附近)會使測量顯示延遲。 用統(tǒng)計程序在一個點多次測讀,校準(zhǔn)和測量會更加

探頭;

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

 

磁感應(yīng)和渦流原則,符合以下工業(yè)標(biāo)準(zhǔn): 
DIN 50981、50982、50984;ASTM B499、B244;ISO 2178、2360;BS 5411。 
注:DIN 50981和50984已經(jīng)被DIN EN ISO 2178和DIN EN ISO 2360所代替。

比起1100只能打印即時數(shù)據(jù)顯然更加實用,根據(jù)探頭類型的不同,在不同基體上測量時應(yīng)用不同的測量原理,磁感應(yīng)或者渦流法。鍵盤控制可轉(zhuǎn)移至PC電腦,使之進入自動控制網(wǎng)絡(luò)。 測量值和用戶信息顯示在大型液晶顯示器上。弱光時,顯示器可選背景照明,確保閱讀屏幕數(shù)據(jù)。

MINITEST 2100可自動存儲10,000個以上讀數(shù)。數(shù)據(jù)可打印和統(tǒng)計評估。也可通過RS232接口傳送到電腦以便進行進一步的處理。將測量單位從公制(μm,mm,cm)轉(zhuǎn)換至英制(密耳,英寸)

:張磊

:         

公司地址:上海市浦東新區(qū)外高橋保稅區(qū)華京路418號

 

FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度

F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層

F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 

F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

 

N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

 

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