實(shí)際使用中的幾個(gè)問題：

由于磁吸力測厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后，在使用中不能再變動(dòng)，所以在實(shí)際使用中可能會(huì)出現(xiàn)的一些影響測量精度的因素必須加以考慮，并對(duì)測量結(jié)果進(jìn)行必要的修正。以獲得更準(zhǔn)確的讀值。這些因素有：

a、鋼鐵基體的磁特性

磁性測厚儀受基體金屬導(dǎo)磁性能變化的影響。低碳鋼磁性的變化是很輕微的不必考慮，高碳鋼及熱處理后的硬鋼則會(huì)使讀值偏高。

b、基體金屬厚度

該儀器有一個(gè)基體小臨界厚度值。型號(hào)不同，則該臨界厚度不同。請參考技術(shù)說明指標(biāo)表（表1）。若厚度超過這一小臨界厚度值，測量值不會(huì)受到影響；反之，則造成讀值偏高。

c、邊緣效應(yīng)

該測量方法對(duì)被測體邊界、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感。因此，在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。所以，技術(shù)說明指標(biāo)指出了小測量面積。必須要測量這種場合時(shí)，一定要經(jīng)過校準(zhǔn)。

d、曲率

被測量件的曲率對(duì)測量有影響，一般凸面造成測值偏大，凹面則偏小。盡管儀器在設(shè)計(jì)時(shí)對(duì)這方面有所補(bǔ)償。

e、覆蓋層的厚度

測厚精度隨覆層厚度變化面變化。對(duì)于薄的覆層，其測量精度是一個(gè)常數(shù)，與覆層厚度無關(guān)；對(duì)于厚度的覆層，其精度與覆層厚度近似成正比。

f、剩磁

基體金屬的剩磁對(duì) Mikrotest 測厚儀的測量結(jié)果會(huì)有影響。

g、磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場會(huì)嚴(yán)重干擾丨儀器工作。

h、地球重力
Mikrotest 測厚儀測量讀數(shù)受測頭相對(duì)于地球重力方向影響